PST6747A半导体测试系统
发布日期：2023-05-15
信息来源：国际科技创新中心网络服务平台

PST6747A半导体测试系统经博电科技研发团队持续技术攻关,于2020年研制成功并供应客户,实现我国在功率半导体高端分析仪器装备方向有力替代进口同类产品｡PST6747A是国内首台具有快脉冲､精度分辨fA级电流检测､宽电压/电流测量能力的半导体测试系统｡

PST6747A半导体测试系统解决了基于国产检测设备实现主流功率器件 (IGBT､MOSFET､GTO)和新型材料(GaN､SiC)等功率半导体器件的静态全参数测试难题｡产品已应用于工业企业､科研院所､运维､生产等各大半导体研究院所和高校等使用试用并获得用户好评｡

主办：全国科技活动周组委会 北京市人民政府 承办：全国科技活动周组委会办公室 北京市科普工作联席会议办公室
京ICP备05060936号-2  京公安备11040202500067号
PST6747A半导体测试系统
2023-05-15
信息来源：国际科技创新中心网络服务平台

PST6747A半导体测试系统经博电科技研发团队持续技术攻关,于2020年研制成功并供应客户,实现我国在功率半导体高端分析仪器装备方向有力替代进口同类产品｡PST6747A是国内首台具有快脉冲､精度分辨fA级电流检测､宽电压/电流测量能力的半导体测试系统｡

PST6747A半导体测试系统解决了基于国产检测设备实现主流功率器件 (IGBT､MOSFET､GTO)和新型材料(GaN､SiC)等功率半导体器件的静态全参数测试难题｡产品已应用于工业企业､科研院所､运维､生产等各大半导体研究院所和高校等使用试用并获得用户好评｡

主办：全国科技活动周组委会 北京市人民政府

承办：全国科技活动周组委会办公室

北京市科普工作联席会议办公室

京ICP备05060936号-2 

京公安备11040202500067号